四款型号的定位与核心差异
每款型号使用独立识别色，但整体页面保持统一的仪器官网风格。点击产品图、背面接口或四象限按钮可查看原图。
关键参数对比
| 型号 | 通道 | 最大电压 | 最大直流电流 | 最大脉冲 | 最小电流量程 | 最低显示分辨率 | 前面板 | 主要定位 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 2450 | 1 | ±200 V | ±1 A | — | 10 nA | 10 fA | 5 英寸触摸屏 | 通用实验室 |
| 2602B | 2 | ±40 V | ±3 A | 10 A | 100 nA | 100 fA | 双行 VFD + 旋钮 | LIV / 大电流 |
| 2612B | 2 | ±200 V | ±1.5 A* | 10 A* | 100 nA | 100 fA | 双行 VFD + 旋钮 | 高压 / 曲线族 |
| 2636B | 2 | ±200 V | ±1.5 A* | 10 A* | 100 pA | 0.1 fA | 双行 VFD + 旋钮 | 漏电 / 高阻 |
* 2612B / 2636B 的 ±1.5 A 对应约 20 V 工作区；10 A 脉冲通常对应较低电压、限定脉宽和占空比。最大电压与最大电流不能在同一工作点同时输出，应依据四象限功率边界选型。
四象限工作范围对比
四象限图比单一“最大电压 / 最大电流”更能反映真实输出能力。点击图片可查看原始大图。
适合实验室通用 I-V、电阻、功率与基础器件表征；5 英寸触摸屏便于手动操作、教学和快速换样。
面向低压大电流、双通道同步与自动化系统，尤其适合 LED、激光二极管、LIV 和低压功率器件。
兼顾双通道与 ±200 V 高压覆盖，适合晶体管曲线族、双端偏置、高压器件和模块级自动测试。
专注超低电流、高阻和漏电测试，同时保留双通道与 ±200 V 偏置能力，适合微弱电学行为研究。
从测试任务反推型号
先确定通道数、主要电压和电流工作区，再判断是否需要脉冲、超低电流、三同轴接口或高吞吐量自动化。
快速选型建议
常规 I-V、材料与教学
操作最直观，单通道覆盖面广，适合作为实验室首台通用源表。
LED / 激光器 LIV 与低压大电流
双通道、3 A 直流和 10 A 脉冲更匹配光电器件及产线测试。
曲线族、双端偏置与高压器件
双通道 ±200 V，兼顾高压、较强电流和自动化扩展。
IDDQ、栅极泄漏和高阻材料
100 pA 量程、0.1 fA 分辨率及三同轴接口用于超低电流测量。
超低电流测量还取决于三同轴线缆、Guard、夹具漏电、屏蔽、湿度、污染、积分时间和稳定等待；高电流与高压测试则需关注功率边界、脉冲宽度、占空比、散热及安全互锁。
接口、脚本与测试附件
源表只是测试链的一部分。探针台、线缆、夹具、互锁、开关矩阵和软件会直接影响可实现的性能与长期稳定性。
TSP® 与 TSP-Link®
2600B 系列可在仪器内部执行扫描、判断和数据处理，并通过 TSP-Link 扩展多节点同步系统。
Kelvin、三同轴与 Guard
常规精密测量使用四线 Kelvin；2636B 超低电流应用应采用低泄漏三同轴、Guard 和屏蔽夹具。
高压与大电流安全
配置安全互锁、绝缘防护、过流限制、合适线径与散热条件，并按实际四象限边界设置合规值。
源表之外的半导体与超低电流测试平台
可进一步配置 4200A-SCS 参数分析仪、4210/4211 SMU 模块、6430 亚飞安源表、6487/6482 皮安表以及 6514/6517B 静电计等产品，覆盖半导体参数分析、超低电流、高阻和可靠性测试。
型号、线缆、夹具、探针台、互锁与自动化方式按测试任务配置
页面参数用于型号比较；正式采购与系统设计应根据具体样品、工作点、脉冲条件和安全要求核对厂家规格书。
