制冷型微型光纤光谱仪

索谱 SP-5200 是一款高灵敏度高分辨率的制冷型微型光纤光谱仪。它采用 F/4 交叉非对称 C-T 光路,可选配 TEC 制冷线阵 CMOS 或最低制冷至 -10 ℃ 的背照式面阵 CCD。 该设备支持 190–1100 nm 的可配置波段,分辨率范围为 0.1–3 nm。结合 18 bit ADC 低噪声信号链,其动态范围最高可超 10000:1,从而有效保障了微弱信号的稳定测量。 此外,设备提供 SMA905 光纤输入接口,支持 USB Type-C、UART 数据输出及 20 针可编程外扩接口。其紧凑的机身和高通量设计,使其广泛适用于拉曼光谱、微弱荧光探测、反射/透射分析以及各类科研与 OEM 系统集成。
Description
SP
SOPUO FIBER SPECTROSCOPY
SP-5200 Cooled Spectrometer
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TE-COOLED HIGH-SENSITIVITY FIBER SPECTROMETER

SP-5200

高灵敏度高分辨率制冷型微型光纤光谱仪

SP-5200 系列采用 F/4 交叉非对称 C-T 光路,可选 TEC 制冷线阵 CMOS 或 -10 ℃ 背照式面阵 CCD。通过低噪声信号处理、紫外/红外响应优化及多种狭缝与光栅配置,在紧凑体积内兼顾弱光探测、高分辨率与宽波段覆盖,适用于拉曼、微弱荧光、反射率/透过率及在线光谱分析。

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190–1100 nm                    可配置探测波段
0.1–3 nm                    分辨率取决于波段与狭缝
-10                    P/R 背照式 CCD 制冷
100 fps typ.                    典型光谱采集帧率
CROSSED C-T · TE COOLING · LOW-NOISE ADC
SP-5200 制冷型微型光纤光谱仪
SMA905USB Type-C190–1100 nm
f8309-制冷型微型光纤光谱仪.png
WHY SP-5200

把高灵敏度、稳定制冷与灵活光谱配置装进紧凑机身

面向弱信号和长期测量,SP-5200 不只追求单一参数,而是从探测器、制冷、光路、信号链和接口协同优化测量稳定性。

01 / TE COOLING

主动制冷抑制暗电流

标准 CMOS 型最低约 -5 ℃;P/R 背照式 CCD 型最低约 -10 ℃,降低暗电流及温漂对弱光测量的影响。

02 / LOW-NOISE SIGNAL CHAIN

18 bit ADC 低噪声采集

超低噪声信号处理电路配合 18 bit ADC(实际输出 16 bit),兼顾微弱信号分辨和数据接口兼容性。

03 / FLEXIBLE OPTICAL SETUP

波段、狭缝和探测器可选

覆盖 190–1100 nm 可配置范围,提供 5–200 μm 多种狭缝,并可按紫外、可见或近红外应用优化。

HIGH DYNAMIC RANGE

P/R 型动态范围 >10000:1

背照式 CCD 配置进一步提升信噪比与动态范围,适合微弱荧光、拉曼及高对比度光谱测量。

COMPACT OEM INTEGRATION

Type-C / UART 与可编程扩展接口

支持 USB Type-C 或 UART 数据输出,并提供 20 针双排可编程外扩接口,便于科研系统及 OEM 集成。

OPTICAL & DETECTOR ARCHITECTURE

F/4 交叉非对称 C-T 光路,兼顾通光量与紧凑结构

入射光经 SMA905 或自由空间接口进入狭缝,经过准直、光栅分光和聚焦后到达制冷探测器;不同光栅、狭缝和探测器组合共同决定波段、分辨率与灵敏度。

CROSSED CZERNY-TURNER OPTICAL PATH
光输入SMA905 / 自由空间
入射狭缝5–200 μm 可选
衍射光栅色散与波段配置
聚焦成像F/4 交叉 C-T
制冷探测器CMOS / 背照式 CCD
SPECTRAL ACQUISITION CHAIN
190 nm → 1100 nm
STANDARD CMOS
2048 / 4096

SP-5200 与 SP-5200-4 采用制冷线阵 CMOS,适合常规宽带光谱和较高速采集。

BACK-THINNED CCD
2048 × 64

SP-5200P/R 采用背照式面阵 CCD,强化弱光灵敏度、信噪比与动态范围。

UV ENHANCED
SP-5200P

紫外响应增强,适合紫外-可见吸收、反射/透射及对短波响应要求较高的应用。

RED / NIR ENHANCED
SP-5200R

500 nm 以上响应更高,适合拉曼、近红外反射和水果品质分选等应用。

SYSTEM INTEGRATION

从光纤输入到光谱数据输出的一体化采集链路

SP-5200 可作为独立科研光谱采集单元,也可嵌入拉曼、荧光、反射率/透过率和在线检测系统,通过外触发与扩展接口实现光源、运动机构和上位机的协同。

被测对象发光 / 散射 / 反射 / 透射
光纤耦合SMA905 / 自由空间
SP
SP-5200分光、制冷与数字化
数据与触发Type-C / UART / 20-pin
采集与分析定量、寻峰、保存与控制
STANDARD ACCESSORIES

标准配置

Type-C 至 USB 数据线、5 V 标准适配电源。具体交付接口和线缆长度以订单配置为准。

OPTIONAL OPTICAL ACCESSORIES

可选光学附件

抗紫外可见光纤、可调光衰减器、漫反射标准白板、反射/透射积分球支架、光纤准直镜与余弦校正器。

APPLICATIONS

从微弱发光到在线检测的多场景光谱平台

通过选择合适的探测器、波段、光栅和狭缝,SP-5200 可在灵敏度、分辨率、通光量和测量速度之间进行针对性配置。

拉曼光谱与在线拉曼

R 型增强长波响应,适合常用激光波段拉曼信号采集及过程光谱分析。

微弱荧光探测

制冷与低噪声采集链降低背景,适合低发光强度样品及较长积分测量。

A

微量分光光度计

配合氘卤灯、微量池或光纤探头,实现紫外-可见吸收与浓度分析。

反射率 / 透过率

配合标准白板、积分球和参考测量,适用于镜片、薄膜、材料及表面光谱表征。

水果品质与分选

R 型适合可见-近红外反射采集,可用于糖度、成熟度及内部品质算法开发。

科研与 OEM 集成

紧凑机身、多接口和可编程扩展适合实验装置、自动化平台及工业设备嵌入。

MODEL & CONFIGURATION GUIDE

先选探测器响应,再平衡分辨率、通光量和波段宽度

光谱仪的实际分辨率不是单独由像素数决定;光栅、波段宽度、狭缝、光纤芯径和系统像差都会影响最终结果,正式选型建议以目标谱线实测为准。

01 / SP-5200标准 2048 像素型

适合通用光谱采集、反射/透射及 OEM 系统;TEC 制冷约 -5 ℃。

02 / SP-5200-44096 像素型

用于需要更多光谱采样点的配置;实际分辨率仍取决于光栅与狭缝。

03 / SP-5200P紫外增强背照式 CCD

面向 500 nm 以下响应与弱光性能要求较高的紫外-可见测量。

04 / SP-5200R红外增强背照式 CCD

适合 500 nm 以上弱信号、拉曼及可见-近红外反射应用。

05 / LVF OPTION内置 LVF 消多级衍射

SP-5200-LVF 或 SP-5200P/R-LVF 用于降低高阶衍射串扰,需结合目标波段确认。

06 / SLIT & GRATING狭缝与光栅定制

窄狭缝提高分辨率但降低通光量;弱光应用通常需要在两者之间折中。

选型建议:提交目标波段、典型光源或谱峰、期望分辨率、信号强弱、积分时间、光纤芯径和采集速度要求,可据此匹配探测器、光栅、狭缝及附件,并在必要时进行样品测试。
TECHNICAL SPECIFICATIONS

SP-5200 系列详细技术参数

系列包含不同探测器与响应优化版本。表中为通用配置范围,最终波段、分辨率及接口以选型确认和出厂文件为准。

SP-5200 series · V25.03 basis
类别参数SP-5200SP-5200-4SP-5200PSP-5200R
探测器探测器类型制冷型线阵 CMOS制冷型面阵背照式 CCD
制冷方式TEC 制冷,最低约 -5 ℃探测器制冷,最低约 -10 ℃
有效像素204840962048 × 64
探测光谱范围190–1100 nm(按光栅配置,单机最宽覆盖约 900 nm)
灵敏度1300 V/(lx·s);6.5 μV/e⁻(探测器典型数据)
暗噪声0.4 V RMS;约 6 e⁻(探测器典型数据)
光学参数波长范围190–1100 nm(最宽约 900 nm)
光学分辨率0.1–3 nm,取决于狭缝、光栅及光谱范围
信噪比>600:1>800:1
动态范围>5000:1>10000:1
光学设计F/4 交叉非对称 Czerny-Turner 光路
入射狭缝5 / 10 / 25 / 50 / 100 / 150 / 200 μm 可选,其他尺寸可定制
入射接口SMA905 光纤接口或自由空间输入
电气参数积分时间10 ms–65 s
典型帧率100 fps,Typical
数据输出接口USB Type-C 或 UART
ADC 位深18 bit(实际输出 16 bit)
供电DC 5 V 直流供电,工作电流 <2.3 A
扩展接口20 针双排可编程外扩接口
物理参数外形尺寸208 × 120 × 47 mm
重量约 1.5–1.7 kg
参数说明:光谱仪为按应用配置产品。190–1100 nm 表示系列可配置范围,并非所有配置在同一台仪器上同时覆盖;0.1–3 nm 分辨率也会随光谱范围、光栅、狭缝和光纤芯径变化。正式采购、验收及系统集成应以双方确认的配置表和出厂测试报告为准。