SP-SL 超长工作距离平场复消色差金相物镜
兼顾高数值孔径、宽视场与大型机械操作空间的金相物镜系列
SP-SL 系列覆盖 2X、5X、10X、20X、50X 与 100X，统一采用 25 mm 像方视场设计。系列最高数值孔径达到 0.70，最长工作距离可达 45.3 mm，在平场复消色差校正基础上，为金相观察、探针测试、原位加热和自动检测系统保留更充裕的机械空间。
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从低倍大视场到高倍精细观察，全系列保持显著机械避让空间
SP-SL 系列不仅覆盖更低的 2X 大视场倍率，还将 100X 的数值孔径提升至 0.70，适合需要高分辨率和长工作距离同时兼顾的金相与工业检测系统。
平场复消色差
兼顾视场平坦性、色差控制与多倍率成像一致性，适合相机采集。
超长工作距离
2X–50X 工作距离约 18.9–45.3 mm，100X 仍保留 7.1 mm 空间。
25 mm 像方视场
更适合较大靶面相机和宽视场成像，降低边缘裁切与视场浪费。
最高 NA 0.70
100X 型号分辨率参考值达到 0.5 μm，适合微细结构高倍精查。
SP-SL 系列参数
| 型号 | 倍率 | N.A. | W.D. | 焦距 | 分辨率 | 景深 | 物方视场 | 像方视场 | 重量 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| SP-SL-2X | 2X | 0.055 | 33.72 mm | 100 mm | 6.1 μm | 90.9 μm | 12.5 mm | 25 mm | 276 g |
| SP-SL-5X | 5X | 0.14 | 33.61 / 45.3 mm | 40 mm | 2.2 μm | 14.03 μm | 5 mm | 25 mm | 310 g |
| SP-SL-10X | 10X | 0.28 | 33.4 mm | 20 mm | 1.2 μm | 3.50 μm | 2.5 mm | 25 mm | 310 g |
| SP-SL-20X | 20X | 0.34 | 29.56 mm | 10 mm | 0.8 μm | 2.68 μm | 1.25 mm | 25 mm | 352 g |
| SP-SL-50X | 50X | 0.50 | 18.9 mm | 4 mm | 0.7 μm | 1.19 μm | 0.5 mm | 25 mm | 336 g |
| SP-SL-100X | 100X | 0.70 | 7.1 mm | 2 mm | 0.5 μm | 0.56 μm | 0.25 mm | 25 mm | 340 g |
根据视场、目标尺寸、操作空间和数值孔径选择倍率
2X / 5X
物方视场 12.5 mm 与 5 mm，适合大样品定位、自动寻位和夹具布局。
10X / 20X
工作距离约 29.56–33.4 mm，适合器件表面、结构细节和探针定位。
50X / 100X
分辨率参考值 0.7 μm 与 0.5 μm，适合微缺陷与精细结构观察。
统一 25 mm 像方视场对应不同倍率下的物方视场
物方视场随倍率增加而减小：2X 为 12.5 mm，100X 为 0.25 mm。选型时应同时考虑视场、目标尺寸、相机靶面和所需分辨能力。
管镜、相机、机械安装与照明系统集成要点
从倍率与焦距数据的对应关系看，当前系列参数符合 200 mm 管镜体系的典型关系；正式集成仍应以物镜机械图纸、校正波段和厂家技术协议为准。
确保管镜与物镜设计匹配，避免实际倍率和像差偏离参数。
25 mm 像方视场适合较大靶面相机，但需确认接口和中间镜倍率。
核对物镜外径、总长、螺纹、夹具高度和运动行程，避免干涉。
根据照明、相机、激光和探测波段确认镀膜及复消色差校正范围。
面向超长工作距离、高校正与宽视场系统集成
正式选型建议同步确认目标结构尺寸、所需工作距离、相机靶面、照明波段、管镜焦距和机械接口。
金相组织与材料表面
用于金属组织、涂层、晶粒、断口、腐蚀及精密加工表面的高质量观察。
探针台与电学测试
较长工作距离便于探针臂、电极夹具和样品载台接近目标区域。
高温与原位实验
适合与热台、加热片、环境腔窗口及复杂工装组合使用。
半导体与微电子检测
用于晶圆、芯片、封装、焊点、微结构和器件表面检查。
机器视觉与自动检测
25 mm 像方视场便于与工业相机、自动位移平台及检测软件集成。
科研显微系统搭建
适合反射、明场、偏光、光谱及多通道科研显微系统的定制集成。
倍率、N.A.、工作距离、视场、管镜、相机和机械接口按系统需求配置
用于探针、热台或自动检测系统时，建议提供夹具尺寸、目标细节、照明波段、相机型号及机械安装空间。
