TriVista TR777
三联高分辨率光谱仪与扫描单色仪系统
由三台 750 mm 焦距成像光谱仪精密同步组成，可在单联、双联或三联模式下运行，并通过软件切换加法与减法工作方式。TR777 具有 TriVista 系列最窄的可调带通滤波能力，并在任意工作模式下提供最高光谱分辨率，适用于超低频拉曼、共振拉曼、精细谱线、量子材料及二维材料研究。
三台 750 mm 光谱仪在任意工作模式下实现最高分辨率
TriVista TR777 不依赖固定激光波长的边缘或陷波滤光片。三台 750 mm 光谱仪兼顾超高色散、最窄可调带通滤波和强杂散光抑制，同时保留单联、双联和三联运行的配置灵活性。
加法模式超高分辨
三台 750 mm 光谱仪的色散能力叠加，形成约 2250 mm 等效焦距；在 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝和 500 nm 条件下可达 0.0033 nm 分辨率。
减法模式抑制瑞利光
前两台 750 mm 光谱仪作为高选择性可调谐带通滤光系统，第三台 750 mm 光谱仪完成高分辨色散检测，可获得 TriVista 系列最窄带通和最高减法模式分辨率。
单联、双联与三联切换
VistaControl 可控制各级独立或同步运行，并保存多套配置，便于不同实验、波段和探测器之间快速切换。
加法与减法模式均面向极限分辨率实验
三台 750 mm 光谱仪使 TR777 在加法和减法模式下都保持最高分辨能力。系统仍可作为单台或双联光谱仪使用，在极限性能与实验灵活性之间快速切换。
超高分辨光谱测量
三级光谱仪的色散方向叠加，将三台 750 mm 光谱仪的色散能力组合起来，在可见、近红外乃至 SWIR 波段获得 TriVista 系列最高分辨率。
低频拉曼与杂散光抑制
前两台 750 mm 光谱仪以反向色散形成更窄的可调带通滤光器，第三台 750 mm 光谱仪作为高分辨成像光谱仪，适用于可调谐激光和超低频拉曼测量。
三级成像光谱仪、丰富端口与 VistaControl 软件协同工作
三台光谱仪安装在高刚性基板上，并由软件完成工作模式、光栅、扫描、中间狭缝和探测器采集控制。系统可接入 CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等多类探测器。
典型应用方向
低频与共振拉曼
检测接近激光线的低能量位移，并适配不同激发波长。
二维与量子材料
研究层间剪切模、缺陷、应变、磁性与低能激发。
光致发光与荧光
用于半导体、量子点、生物分子和超分子发光研究。
时间分辨光谱
结合 ICCD 等探测器开展瞬态发光和动力学测量。
主要技术参数
| 参数 | TriVista TR777 |
|---|---|
| 产品类型 | 三级联成像光谱仪 / 扫描单色仪系统 |
| 光谱仪级数 | 3 级 |
| 各级焦距 | 750 mm × 3 |
| 加法模式等效焦距 | 2250 mm |
| 减法模式焦距 | 750 mm |
| 波长范围 | 200–2200 nm（取决于光栅、镀膜和探测器） |
| 工作模式 | 单联、双联、三联；加法与减法模式 |
| 孔径比 | f/9.7 |
| 光学反射镜数量 | 10 |
| 每级光栅数量 | 3 块，可更换三级光栅塔台 |
| 光栅尺寸 | 64 × 84 mm |
| 系统透过率 | 约 15%（典型计算条件） |
| 加法模式分辨率 | 0.0033 nm / 0.13 cm⁻¹ |
| 减法模式分辨率 | 0.010 nm / 0.4 cm⁻¹ |
| 分辨率测试条件 | 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝、500 nm |
| 最低可观察激光能量偏移 | 约 5 cm⁻¹（CCD）；约 2 cm⁻¹（PMT / APD） |
| 杂散光抑制 | 最高可达 10⁻¹⁴ |
| 输入与输出端口 | 最多 4 个输入端口和 4 个信号输出端口 |
| 探测器兼容性 | CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等 |
| 控制软件 | VistaControl |
| 重量 | 约 136 kg |
| 供电要求 | 110 VAC，最大 3 A |
注：分辨率、最低可观察能量偏移和波长覆盖与光栅、狭缝、镀膜、波长、探测器及系统配置有关，具体配置以最终技术方案为准。
光栅、探测器、端口与附件按实验需求配置
可根据激发波长、目标波段、分辨率、杂散光抑制和时间分辨需求，配置不同光栅、反射镜镀膜、CCD / ICCD / InGaAs / PMT / APD 探测器，以及样品室、光纤接口和高光谱扫描附件。
