TriVista TR557
三联高分辨率光谱仪与扫描单色仪系统
由两台 500 mm 与一台 750 mm 焦距成像光谱仪精密同步组成，可在单联、双联或三联模式下运行，并通过软件切换加法与减法工作方式。750 mm 末级光谱仪进一步提升减法模式下的光谱分辨率，在兼顾高杂散光抑制的同时，更适合低频拉曼、共振拉曼、光致发光、量子材料及二维材料研究。
以 750 mm 末级进一步提升减法模式分辨率
TriVista TR557 不依赖固定激光波长的边缘或陷波滤光片。其两台 500 mm 前级兼顾光收集与可调滤波，750 mm 末级重点提升减法模式下的光谱分辨率，同时保留单联、双联和三联运行的配置灵活性。
加法模式超高分辨
两台 500 mm 与一台 750 mm 光谱仪的色散能力叠加，形成约 1750 mm 等效焦距；在 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝和 500 nm 条件下可达 0.0046 nm 分辨率。
减法模式抑制瑞利光
前两级作为可调谐带通滤光系统，750 mm 第三级完成高分辨色散检测，在维持高杂散光抑制的同时提升减法模式分辨率。
单联、双联与三联切换
VistaControl 可控制各级独立或同步运行，并保存多套配置，便于不同实验、波段和探测器之间快速切换。
加法模式与减法模式覆盖两类核心实验需求
无需更换整套仪器，即可在最高光谱分辨率和最高杂散光抑制之间切换。对于常规实验，还可将系统作为单台或双联光谱仪使用，以获得更高通光量。
超高分辨光谱测量
三级光谱仪的色散方向叠加，将两台 500 mm 和一台 750 mm 光谱仪的色散能力组合起来，在可见、近红外乃至 SWIR 波段获得更高分辨率。
低频拉曼与杂散光抑制
前两级以反向色散形成窄带可调滤光器，750 mm 第三级作为高分辨成像光谱仪，适用于无需固定滤光片的可调谐激光和超低频拉曼测量。
三级成像光谱仪、丰富端口与 VistaControl 软件协同工作
三台光谱仪安装在高刚性基板上，并由软件完成工作模式、光栅、扫描、中间狭缝和探测器采集控制。系统可接入 CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等多类探测器。
典型应用方向
低频与共振拉曼
检测接近激光线的低能量位移，并适配不同激发波长。
二维与量子材料
研究层间剪切模、缺陷、应变、磁性与低能激发。
光致发光与荧光
用于半导体、量子点、生物分子和超分子发光研究。
时间分辨光谱
结合 ICCD 等探测器开展瞬态发光和动力学测量。
主要技术参数
| 参数 | TriVista TR557 |
|---|---|
| 产品类型 | 三级联成像光谱仪 / 扫描单色仪系统 |
| 光谱仪级数 | 3 级 |
| 各级焦距 | 500 mm + 500 mm + 750 mm |
| 加法模式等效焦距 | 1750 mm |
| 减法模式焦距 | 750 mm |
| 波长范围 | 200–2200 nm（取决于光栅、镀膜和探测器） |
| 工作模式 | 单联、双联、三联；加法与减法模式 |
| 孔径比 | f/9.7（三联）；仅使用第一级和/或第二级时为 f/6.5 |
| 光学反射镜数量 | 10 |
| 每级光栅数量 | 3 块，可更换三级光栅塔台 |
| 光栅尺寸 | 64 × 84 mm |
| 系统透过率 | 约 15%（典型计算条件） |
| 加法模式分辨率 | 0.0046 nm / 0.17 cm⁻¹ |
| 减法模式分辨率 | 0.010 nm / 0.4 cm⁻¹ |
| 分辨率测试条件 | 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝、500 nm |
| 最低可观察激光能量偏移 | 约 5 cm⁻¹（CCD）；约 2 cm⁻¹（PMT / APD） |
| 杂散光抑制 | 最高可达 10⁻¹⁴ |
| 输入与输出端口 | 最多 4 个输入端口和 4 个信号输出端口 |
| 探测器兼容性 | CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等 |
| 控制软件 | VistaControl |
| 重量 | 约 113 kg |
| 供电要求 | 110 VAC，最大 3 A |
注：分辨率、最低可观察能量偏移和波长覆盖与光栅、狭缝、镀膜、波长、探测器及系统配置有关，具体配置以最终技术方案为准。
光栅、探测器、端口与附件按实验需求配置
可根据激发波长、目标波段、分辨率、杂散光抑制和时间分辨需求，配置不同光栅、反射镜镀膜、CCD / ICCD / InGaAs / PMT / APD 探测器，以及样品室、光纤接口和高光谱扫描附件。
