TriVista TR555
三联高分辨率光谱仪与扫描单色仪系统
由三台 500 mm 焦距成像光谱仪精密同步组成，可在单联、双联或三联模式下运行，并通过软件切换加法与减法工作方式。系统兼顾超高光谱分辨率、强杂散光抑制和全波长扫描能力，适用于低频拉曼、共振拉曼、光致发光、荧光、量子材料及二维材料研究。
在同一平台实现极限分辨率、低频拉曼与全波长扫描
TriVista 不依赖固定激光波长的边缘或陷波滤光片，可根据实验条件和激发波长灵活配置。三级光谱仪既可串联工作，也可分级独立运行，兼顾高分辨、杂散光抑制和多用户实验需求。
加法模式超高分辨
三级色散叠加形成约 1500 mm 等效焦距，在 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝和 500 nm 条件下可达 0.005 nm 分辨率。
减法模式抑制瑞利光
前两级作为可调谐带通滤光系统，第三级完成色散检测，可观察更靠近激光线的低频拉曼信号。
单联、双联与三联切换
VistaControl 可控制各级独立或同步运行，并保存多套配置，便于不同实验、波段和探测器之间快速切换。
加法模式与减法模式覆盖两类核心实验需求
无需更换整套仪器，即可在最高光谱分辨率和最高杂散光抑制之间切换。对于常规实验，还可将系统作为单台或双联光谱仪使用，以获得更高通光量。
超高分辨光谱测量
三级光谱仪的色散方向叠加，将较低刻线密度光栅的色散能力组合起来，在可见、近红外乃至 SWIR 波段获得高分辨率。
低频拉曼与杂散光抑制
前两级以反向色散形成窄带可调滤光器，第三极作为成像光谱仪，适用于无需固定滤光片的可调谐激光和超低频拉曼测量。
三级成像光谱仪、丰富端口与 VistaControl 软件协同工作
三台光谱仪安装在高刚性基板上，并由软件完成工作模式、光栅、扫描、中间狭缝和探测器采集控制。系统可接入 CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等多类探测器。
典型应用方向
低频与共振拉曼
检测接近激光线的低能量位移，并适配不同激发波长。
二维与量子材料
研究层间剪切模、缺陷、应变、磁性与低能激发。
光致发光与荧光
用于半导体、量子点、生物分子和超分子发光研究。
时间分辨光谱
结合 ICCD 等探测器开展瞬态发光和动力学测量。
主要技术参数
| 参数 | TriVista TR555 |
|---|---|
| 产品类型 | 三级联成像光谱仪 / 扫描单色仪系统 |
| 光谱仪级数 | 3 级 |
| 各级焦距 | 500 mm × 3 |
| 加法模式等效焦距 | 1500 mm |
| 减法模式焦距 | 500 mm |
| 波长范围 | 200–2200 nm（取决于光栅、镀膜和探测器） |
| 工作模式 | 单联、双联、三联；加法与减法模式 |
| 孔径比 | f/6.5 |
| 光学反射镜数量 | 10 |
| 每级光栅数量 | 3 块，可更换三级光栅塔台 |
| 光栅尺寸 | 64 × 84 mm |
| 系统透过率 | 约 15%（典型计算条件） |
| 加法模式分辨率 | 0.005 nm / 0.21 cm⁻¹ |
| 减法模式分辨率 | 0.015 nm / 0.6 cm⁻¹ |
| 分辨率测试条件 | 1800 g/mm 光栅、10 μm 狭缝、500 nm |
| 最低可观察激光能量偏移 | 约 5 cm⁻¹（CCD）；约 2 cm⁻¹（PMT / APD） |
| 杂散光抑制 | 最高可达 10⁻¹⁴ |
| 输入与输出端口 | 最多 4 个输入端口和 4 个信号输出端口 |
| 探测器兼容性 | CCD、ICCD、InGaAs、PMT、APD 等 |
| 控制软件 | VistaControl |
| 重量 | 约 102 kg |
| 供电要求 | 110 VAC，最大 3 A |
注：分辨率、最低可观察能量偏移和波长覆盖与光栅、狭缝、镀膜、波长、探测器及系统配置有关，具体配置以最终技术方案为准。
光栅、探测器、端口与附件按实验需求配置
可根据激发波长、目标波段、分辨率、杂散光抑制和时间分辨需求，配置不同光栅、反射镜镀膜、CCD / ICCD / InGaAs / PMT / APD 探测器，以及样品室、光纤接口和高光谱扫描附件。
