PI
TELEDYNE PRINCETON INSTRUMENTS
SpectraPro HRS Imaging Spectrographs
WHY SPECTRAPRO HRS-750
面向精细谱线与高精度扫描的 750 mm 光谱平台
HRS-750 将长焦距高分辨光学系统、AccuDrive 扫描机构、ResXtreme 光谱解卷积与 IntelliCal 校准能力结合，用于获得稳定、可重复且便于系统扩展的科研级光谱数据。
01
高光谱分辨能力
在 1200 g/mm 光栅和 10 μm 狭缝条件下，PMT 分辨率可达 0.03 nm，适合精细谱线分析。
02
AccuDrive 精密扫描
0.002 nm 驱动步进与高重复性扫描机构，支持快速换栅、自动识别塔台及稳定波长定位。
03
ResXtreme 光谱优化
通过二维光谱解卷积进一步改善分辨率、峰强与焦平面一致性，兼顾信噪比和数据可读性。
PRODUCT POSITIONING
高分辨率与多端口扩展兼顾
适用于需要窄线宽分辨、宽波段扫描、双输出端口及多探测器组合的实验室光谱系统，也可作为扫描单色仪与成像光谱仪协同使用。
HIGH RESOLUTION PLATFORM
精细谱线测量
750 mm 长焦距与低逆线色散设计，为拉曼位移、窄线宽发光及高分辨吸收测量提供更细致的谱线区分能力。
CCD 光谱分辨率 0.05 nm
ResXtreme 典型值 ≤0.03 nm
核心指标
1.03 nm/mm 色散 27 nm CCD 覆盖 0.002 nm 步进 ±0.01 nm 精度
FLEXIBLE CONFIGURATION
多端口与多光栅配置
双输出端口均提供完整焦平面，可安装两台阵列探测器，或组合输出狭缝与阵列探测器，实现单色仪和光谱仪协同工作。
焦平面尺寸 14 × 30 mm
可用光栅数量 最多 9 块
核心配置
双输出端口 三光栅 CTS 塔台 阵列 / 单通道探测 USB 2.0
SYSTEM PERFORMANCE
从光学扫描到采集、校准与分析的一体化平台
HRS-750 可与 Princeton Instruments 科学级探测器、LightField 软件、IntelliCal 校准系统及多种输入输出附件组合，构建完整光谱测量系统。
像差校正光路
环面镜降低非点像差
双输出焦平面
每端口 14 × 30 mm
多探测器兼容
CCD / EMCCD / sCMOS / InGaAs
精准校准与控制
IntelliCal / LightField
APPLICATIONS
典型应用方向
高分辨拉曼
适合窄间隔拉曼峰、材料应力与晶格振动精细分析。
荧光与 PL
用于发光峰形、峰位、半峰宽及弱发光特征测量。
LIBS 与等离子体
适合复杂原子发射谱线识别与等离子体诊断。
透射、吸收与显微光谱
覆盖材料透射、吸收及显微区域精细光谱表征。
TECHNICAL SPECIFICATIONS
主要技术参数
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| 参数 | SpectraPro HRS-750 |
|---|---|
| 产品类型 | 成像光谱仪 / 扫描单色仪 |
| 焦距 | 750 mm |
| 孔径比 | f/9.7 |
| PMT 光谱分辨率 | 0.03 nm（10 μm 狭缝） |
| CCD 光谱分辨率 | 0.05 nm |
| ResXtreme CCD 分辨率 | 0.03 nm 或更优（典型值） |
| 逆线色散 | 1.03 nm/mm |
| 26.8 mm CCD 波长覆盖 | 27 nm（标称值） |
| 焦平面尺寸 | 14 × 30 mm（两个输出端口） |
| 机械扫描范围 | 0–1500 nm |
| 驱动步进 | 0.002 nm/step |
| 波长精度 | ±0.01 nm |
| 波长复现性 | ±0.05 nm（双向扫描，典型值） |
| 光栅塔台 | 三光栅可更换 CTS 塔台，安装后自动对准 |
| 光栅切换复现性 | 0.02 nm（典型值） |
| 光栅尺寸 | 68 × 68 mm 标准；68 × 84 mm 可选 |
| 塔台数量 | 最多 3 个塔台，每个塔台 3 块光栅 |
| 非点像差校正 | 环面镜降低非点像差，支持多通道光谱 |
| 计算机接口 | USB 2.0 |
| 外形尺寸 | 806 × 318 × 233 mm |
| 重量 | 34.0 kg |
| 光轴高度 | 156 ± 11 mm，可调 |
| 工作环境 | 0–30 ℃；相对湿度 80%，无冷凝 |
注：除特别说明外，分辨率参数基于 1200 g/mm 光栅条件；实际性能与光栅、狭缝、波长、探测器及系统配置有关。
CONFIGURATION
探测器、光栅与附件按应用配置
可根据波段、分辨率、灵敏度和时间分辨需求，组合 CCD、EMCCD、ICCD、sCMOS、InGaAs 探测器，以及光栅、狭缝、光纤、滤光轮和校准附件。
