SP-TL 特长工作距离平场复消色差 APO 物镜
兼顾高分辨率、平场校正与机械操作空间的国产显微物镜系列
SP-TL 系列覆盖 5X、10X、20X、50X 与 100X，在保持平场复消色差校正和较高数值孔径的同时，提供明显优于常规 M Plan APO 的工作距离。统一采用 M26 × 0.706 安装螺纹，适合显微观察、探针测试、原位加热、机器视觉及科研系统集成。
在 APO 校正与高数值孔径基础上，显著增加可用操作空间
常规高倍 APO 物镜往往具有较短工作距离。SP-TL 系列通过光学结构优化，在分辨率、景深和工作距离之间取得更适合系统集成的平衡。
平场复消色差
兼顾中心与边缘成像、色差控制及多波段观察一致性。
特长工作距离
从 5X 的 45 mm 到 100X 的 12.5 mm，满足探针和原位操作需求。
完整倍率覆盖
5X、10X、20X、50X、100X 便于从大视野定位到微细结构观察。
统一接口
M26 × 0.706 螺纹便于标准化配置、替换和整机集成。
SP-TL 系列参数
| 型号 | 倍率 | N.A. | W.D. | 焦距 | 景深 | 分辨率 | 安装螺纹 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| SP-TL-5X | 5X | 0.14 | 45 mm | 40 mm | 14 μm | 2 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-10X | 10X | 0.28 | 34 mm | 20 mm | 3.5 μm | 1 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-20X | 20X | 0.29 | 30.8 mm | 10 mm | 3.5 μm | 1 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-50X | 50X | 0.42 | 20.5 mm | 4 mm | 1.6 μm | 0.7 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-100X | 100X | 0.55 | 12.5 mm | 2 mm | 0.9 μm | 0.5 μm | M26 × 0.706 |
5X / 10X
45 mm 与 34 mm 工作距离，适合大视野定位、夹具布置和探针接近。
20X / 50X
在分辨率、景深和操作空间之间取得平衡，适合器件和材料表面检测。
100X
NA 0.55、工作距离 12.5 mm，兼顾高倍细节与机械避让空间。
工作距离、数值孔径、景深与波段版本如何平衡
根据夹具和探针选择 W.D.
需要放置探针、热台、窗口或复杂夹具时，先确认最低工作距离要求。
结合 N.A. 与目标尺寸
目标结构越小，通常越需要更高数值孔径；同时应考虑景深和系统稳定性。
可见光与不可见光配置
根据照明、相机、激光与探测波段确认镀膜及校正范围，避免仅按倍率选型。
显微镜、相机、照明与位移平台集成要点
确认物镜设计管镜与系统管镜焦距匹配，避免倍率和像差偏离。
根据相机靶面和像元选择倍率，兼顾采样、视场和有效分辨率。
可见、近红外或其他波段需确认透过率与像差校正范围。
核对物镜外径、长度、螺纹、夹具高度和运动行程，避免结构干涉。
面向长工作距离、高校正与系统集成需求
正式选型建议同步确认倍率、数值孔径、工作距离、校正波段、管镜焦距、相机靶面和机械接口。
显微探针与器件测试
较长工作距离为探针臂、电极夹具和器件平台预留空间，适合显微定位与电学测试。
高温与原位观察
便于集成热台、加热台、真空腔窗口和原位反应装置，观察材料在环境变化下的状态。
半导体与微电子检测
适合晶圆、芯片、封装、焊点、微结构和器件表面的观察与定位。
机器视觉与自动检测
统一螺纹和完整倍率系列有利于与工业相机、自动位移平台和检测软件集成。
科研显微系统搭建
适用于自建显微镜、拉曼、荧光、反射、透射及多波段成像系统。
空间受限样品观察
适合大型样品、复杂夹具和需要避让结构件的显微观察场景。
倍率、N.A.、工作距离、波段版本、管镜和相机接口按系统需求配置
用于探针、热台或机器视觉系统时，建议提供夹具尺寸、目标细节、照明波段、相机型号和机械安装空间。
