K
KEITHLEY INSTRUMENTS
2450 SourceMeter® SMU
WHY KEITHLEY 2450
把精密源、测量、曲线显示和自动化测试整合到单台仪器
2450 更强调直观的前面板操作与通用测试覆盖,适合需要频繁换样、快速建立扫描并现场查看曲线的实验室工位。
01
四象限源测量能力
既可向被测器件供电,也可吸收器件输出功率,适合二极管、传感器、太阳能器件和材料 I-V 测试。
02
图形化触摸操作
5 英寸触摸屏可直接设置扫描、显示读数和查看曲线,降低传统源表前面板的操作门槛。
03
TSP 自动化与远程控制
支持脚本化测试与常见通信接口,可从单机测试平滑扩展到探针台、温控台和自动化测试系统。
MEASUREMENT CAPABILITIES
可测项目与常用测试功能
作为单通道通用型 SMU,2450 适合覆盖实验室最常见的直流源测量、扫描和器件静态特性测试。
I-V 扫描
电压扫描测电流或电流扫描测电压,生成器件伏安特性曲线。
二线 / 四线电阻
适用于普通电阻与需要降低引线影响的四线制测量。
功率与导通参数
同步计算电压、电流和功率,观察阈值、导通和工作点。
时间序列与趋势
记录器件输出随时间变化,用于漂移、稳定性和传感响应测试。
TEST ITEMS
推荐可测项目
01 · 二极管正反向 I-V
02 · 四线电阻与材料电阻
03 · 光敏器件与传感器响应
04 · 薄膜材料导电特性
05 · 器件功率点与稳定性验证
TARGET SAMPLES
典型测试对象
01 · 二极管、LED 与光电探测器
02 · 晶体管基础表征样品
03 · 电阻网络与材料样片
04 · 传感器和探针台器件
05 · 教学实验标准器件
APPLICATIONS
适合研发、教学与常规器件表征的通用测试平台
2450 的优势不是追求极端高压、极端大电流或多通道,而是在常见范围内提供较完整、直观且易自动化的源测量能力。
半导体器件
二极管、LED、晶体管与光电器件
材料电学
薄膜、二维材料、导电材料与电阻样品
传感器测试
光、温度、压力和化学传感器静态响应
教学与研发验证
快速换样、曲线观察和基础电学实验
TECHNICAL SPECIFICATIONS
主要技术参数
手机端可横向滑动查看完整表格
| 参数项目 | Keithley 2450 规格与说明 |
|---|---|
| 产品型号 | Keithley 2450 SourceMeter® SMU |
| 仪器类型 | 单通道四象限源测量单元(SMU) |
| 最大输出电压 | ±200 V |
| 最大输出电流 | ±1 A DC |
| 最小电流量程 | 10 nA |
| 最小电流分辨率 | 10 fA |
| 源功能 | 精密电压源、精密电流源、四象限输出与吸收 |
| 测量功能 | 电压、电流、电阻和功率测量 |
| 电阻测量 | 支持二线与四线制连接,适合常规电阻与低电阻测试 |
| 扫描与显示 | 支持源扫描、曲线显示、统计和前面板快速测试 |
| 前面板 | 5 英寸彩色图形化触摸屏 |
| 自动化能力 | 支持 TSP 脚本与远程控制,可用于自动扫描和系统集成 |
| 典型接口 | USB、LAN、GPIB 等,具体以订购配置和厂家资料为准 |
| 安全与保护 | 可设置电压 / 电流限制及合规值,保护被测器件 |
| 产品定位 | 单通道精密通用型图形化源表 |
| 典型应用 | I-V、电阻、传感器、光电器件和材料电学测试 |
注:量程、准确度、采样速度、接口和附件可能随固件、配置及订购选件变化,最终以厂家当前数据表和技术确认文件为准。
SELECTION GUIDE
选型建议
适合选择 2450
首台通用源表或人工测试工位
需要覆盖常规 I-V、电阻和功率测量,同时重视前面板易用性与快速换样。
优先考虑 2600B
多通道与更强系统自动化
需要双通道联动、高电流、高压、超低漏电或生产测试时,可进一步比较 2602B、2612B、2636B。
系统配置重点
夹具、屏蔽、探针台与接线同样重要
低电流测试应配置低噪声线缆和屏蔽,高阻样品需控制漏电与环境干扰,四线测量需正确连接 Sense 端。
RELATED MODELS
2602B
双通道大电流低压,适合 LIV 与产测
2612B
双通道高压均衡,适合器件联动
2636B
双通道超低电流,适合漏电测试
CONFIGURATION
测试线缆、夹具、探针台与自动化接口按应用配置
配置时应根据最大电压、电流、最低电流、连接方式、屏蔽要求及远程控制需求,确认线缆、夹具和系统附件。



