SPM600LWD 特长工作距离金相显微镜
面向探针操作、高温热台和复杂工装的长工作距离金相平台
SPM600LWD 采用无限远光学系统和特长工作距离平场消色差物镜,在高倍率下仍为探针、热台、夹具和大型样品保留较充裕操作空间。内置柯拉落射照明、大行程机械平台和偏光观察装置,适合金属、半导体、电子器件、精密机械及原位实验。
观察与操作并重,为探针、热台和复杂夹具保留空间
常规高倍金相物镜工作距离较短,容易限制探针接触、样品加热和机械操作。特长工作距离物镜可显著增加物镜前端与样品之间的可用空间。
超长工作距离
5X 至 100X 物镜均保留较大操作空间,100X 工作距离仍可达 12.5 mm。
无限远光学系统
管镜焦距 200 mm,适合模块化扩展、相机接口和偏光观察。
大行程机械平台
150 × 150 mm 移动范围适合大样品、多区域检测和批量定位。
柯拉落射照明
提供均匀可控的反射照明,适合金相、半导体和不透明样品观察。
5X–100X 特长工作距离物镜系列
物镜表中的分辨率和景深为系列参考值。实际成像还会受到波长、照明、样品反射率、相机像元和系统调焦精度影响。
| 型号 | 倍率 | N.A. | W.D. | 焦距 | 景深 | 分辨率 | 安装螺纹 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| SP-TL-5X | 5X | 0.14 | 45 mm | 40 mm | 14 μm | 2 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-10X | 10X | 0.28 | 34 mm | 20 mm | 3.5 μm | 1 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-20X | 20X | 0.29 | 30.8 mm | 10 mm | 3.5 μm | 1 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-50X | 50X | 0.42 | 20.5 mm | 4 mm | 1.6 μm | 0.7 μm | M26 × 0.706 |
| SP-TL-100X | 100X | 0.55 | 12.5 mm | 2 mm | 0.9 μm | 0.5 μm | M26 × 0.706 |
5X / 10X
45 mm 和 34 mm 工作距离,适合大视野定位、探针布置和工装调节。
20X / 50X
兼顾细节、数值孔径和操作空间,适合器件结构与材料表面检查。
100X
N.A. 0.55、工作距离 12.5 mm,适合在保留操作空间的同时观察微细结构。
观察筒、照明、调焦、偏光与大行程平台
稳定的反射金相成像系统
适合大样品与原位操作
标准配置与技术参数
| 参数项目 | SPM600LWD 标准规格 |
|---|---|
| 产品型号 | SPM600LWD |
| 显微镜类型 | 特长工作距离正置金相显微镜 |
| 光学系统 | 无限远光学系统,管镜焦距 200 mm |
| 目镜 | WF10X 广角目镜,视场数 Φ22 mm |
| 观察筒 | 三目镜筒,45° 倾斜,瞳距调节范围 55–75 mm |
| 物镜 | 无限远特长工作距离平场消色差无盖玻片物镜 |
| 标准物镜组合 | 5X / 10X / 20X / 50X;100X 可按配置选用 |
| 物镜转换器 | 五孔转换器,物镜螺纹 M26 × 0.706 |
| 调焦机构 | 粗微动同轴调焦,微动格值 2 μm,带锁紧和限位装置 |
| 反射照明 | 12 V / 50 W 卤素灯,内置柯拉落射照明 |
| 偏光观察 | 内置偏光观察装置 |
| 载物台 | 6 英寸双层活动平台 |
| 移动范围 | 150 × 150 mm |
| 平台使用范围 | 230 × 280 mm |
| 外形尺寸 | 535 × 580 × 530 mm |
| 整机重量 | 约 39.1 kg |
注:当前标准物镜组合列出 5X、10X、20X 与 50X;100X 物镜为系列可选规格,正式配置时应确认是否包含。
普通金相显微镜与特长工作距离型号如何选择
以成像和常规材料观察为主
样品表面平整、无需探针或热台操作,并希望获得更高数值孔径时可优先选择常规物镜系统。
需要探针、热台或大型工装
实验操作空间和样品兼容性优先,尤其适合原位测试、探针定位及高温样品观察。
工作距离与分辨率的平衡
特长工作距离通常以较低 N.A. 换取操作空间,应根据最小目标尺寸和所需空间共同选型。
面向探针操作、原位加热和复杂样品显微观察
正式选型应同时确认样品高度、夹具尺寸、目标倍率、最小分辨细节、热台温度范围、相机接口和平台承载。
探针与电学测试
超长工作距离为探针臂、电极夹具和样品台留出操作空间,适合显微探针辅助定位。
高温原位观察
便于配置热台、加热台和高温样品夹具,观察材料在温度变化下的表面与组织变化。
半导体与电子器件
用于晶圆、芯片、器件封装、焊点、引线和微结构的检查与定位。
金属材料与失效分析
适合金相组织、裂纹、腐蚀、磨损、断口和表面处理层观察。
精密机械与微加工
用于刀具、微孔、划痕、涂层、加工表面和精密零件检测。
教学与科研平台
适合材料、机械、电子、矿物及无损检测方向的教学与科研实验。
物镜倍率、工作距离、热台、探针、平台行程、偏光和相机接口按实验系统配置
用于高温或探针实验时,建议提供样品和夹具尺寸、操作高度、探针入射方向及目标观察区域。
